全部產品資訊
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AOI Inspection
可同時檢測材料之3~5個表面的瑕疵
檢測項目: 材料表面、印字、管腳、載帶、材料方向、點膠/固晶定位
精度(Accuracy): 依不同視覺系統配置及規格要求而異)
重複精度 (Repeatability): ±5 um (依不同視覺系統配置及規格要求而異)
產能: 依客戶機台速度而定 -
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高角度環形光源
360度同心圓高密度LED陣列,照射角度小於30度方式將光源投射至被照物。
本系光源泛用於電子零組件印字,管腳,晶圓,定位系統,印刷電路板,標籤,食品包裝等項目之檢測。 -
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中角度環型光源
中角度環形光源系列提供照射角度介於45~60度之間的照射條件,使光源能夠以比高角度環形光源更低的角度將光線投射被照物,
同時照射區域也更為集中。由於照射角度較低的關係,被照物邊緣形狀,表面較細微凹凸變化或特徵形狀將更為明顯地凸顯出來。
適用於電子零組件印字及條碼,BGA錫球,晶圓表面刮傷,印刷電路板,物體邊緣形狀,一般外觀檢測等項目檢測。 -
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低角度環形光源系列
低角度環形光源系列提供照射角度介於75~90度之間的照射條件,工作距離一般在6~15mm左右,環形陣列方式密集排列
的LED光源,以接近或是以水平的角度向中央集中投射,可將被照物輪廓形狀及表面高低變化予以最大程度顯現出來。
適用於玻璃表面異物,鋼印,軸承,金屬零組件外型或尺寸等項目檢測。 -
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平行式環形光源系列
平行式環形光源系列以陣列方式密集排列的LED,將光源以與相機取像角度平行方式進行投射,
並形成較大面積照射區域,是用在需要有較長光源投射距離的場合或是平整物體表面的瑕疵極尺寸量測。
適用於表面刮傷,破損,定位,導線架,沖壓件,尺寸量測,表面紋理等檢測。 -
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穹形光源系列
穹形光源系列採穹頂式結構設計,利用光學級導光材料或是藉由特殊塗層內必將LED光源予以漫反射,形成二次光源,
圓穹形反射內壁採用特殊塗層處理,能充分地將光線進行各種角度的折射與反射,降低亮度損失,提供被照物最均勻
與柔和無陰影的照明。
適用於被照物表面特別光滑,反射度極高或是有曲度變化的物體檢測,例如金屬材料表面,金屬表面印刷,焊點,弧形或彎曲表面等項目檢測。 -
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平板式環形光源系列
平板式環形光源系列採薄形化設計,LED光源先經過導光材料及散光膜予以漫反射後,
再以垂直或高角度方式提供被照物均勻而柔和的漫反射照明,適用於表面閃亮有光澤的材料檢測。
可應用於物體表面塗裝,鍍膜,玻璃製品,BGA,焊點,銀膠等項目檢測。 -
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同軸光源系列
同軸光源系列採用特殊分光鏡片,將以經過擴散板散射過的平行入射光源向下反射90度,使得光線
能夠完全的從正面垂直向下投射在被照物表面,提供與鏡頭取向角度平行而均勻的大面積照明區域。
適用於表面會產生強烈反光物質如玻璃,晶片,金屬零件,液晶,以及半導體,電子零件封膠體表面瑕疵檢測等等。 -
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背光源系列
背光源系列是將密集排列LED陣列安裝於燈體內部,表面採用光學及擴散板。LED所發出光由下方直接射入擴散板時,光線因擴散板中的擴散微粒(Particles)作用造成光擴散效果,已產生分布均勻的二次面光源,將被側物至於該系列光源及相機之間,可以得到黑白分明而清晰的輪廓影像。
適用於金屬沖孔,沖壓件檢測,形狀檢測,管腳,膠片,液面,形狀輪廓或是透明容器雜質檢測等等。 -
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條形光源系列
條形光源系列採用高密度的LED矩陣設計,有效照射區域為長方形,照射方向平行而一致
可自由調整照射角度或安裝位置,適合被照物極寬或是搭配現掃視覺系統使用的環境,同時
可依需要增加光源的長度或是加裝一組以上的調形光源互相搭配調整,以取得最佳影像。